Vlaknasta struktura membranskih filtrirnih medijev predstavlja edinstvene izzive v področju odkrivanja delcev in učinkovitosti filtracije. Z najbolj prodorno velikostjo delcev (MPP) okoli 0,07 μm imajo membranski filtrirni mediji bistveno manjša vlakna v primerjavi z mikro vlaknastimi mediji, ki imajo MPP od 0,1 do 0,25 μm.
Zahteve za testiranje
Natančno testiranje teh filtrov zahteva odkrivanje delcev, ki so majhni pri 0,05 μm. Ta zahteva presega zmogljivosti standardnih števcev laserskih delcev, ki niso dovolj občutljivi, da bi zaznali takšne majhne delce. Posledično so za testiranje membranskih filtrirnih medijev potrebni kondenzacijski števci delcev (CPC). CPC -ji lahko zaznajo veliko manjše delce in tako zagotovijo natančno merjenje učinkovitosti filtracije.
Klasifikacija ISO 29463
Razvrstitev filtrov, ki temeljijo na vrednostih MPP v skladu z ISO 29463, postane neizvedljiva pri uporabi števcev laserskih delcev zaradi njihovih omejitev zaznavanja. Vendar ISO 29463 ponuja alternativni postopek za reševanje tega izziva. Z uporabo korelacijskega faktorja F standard omogoča izračun učinkovitosti filtracije MPP s testiranjem učinkovitosti penetracije 0,14 μm. Ta metoda ponuja praktično rešitev za oceno zmogljivosti filtra, ne da bi potrebovala opremo, ki bi lahko zaznala najmanjše delce.
Za potrebe s testiranjem filtrirnih medijev je SC-FT-1406DU odličen preizkuševalec. Z največjim območjem učinkovitosti 99.999999% pri 0,1 μm izpolnjuje stroge zahteve testiranja MPPS v skladu s standardi ISO 29463. Ta preizkuševalec zagotavlja, da je mogoče tudi najzahtevnejše meritve učinkovitosti filtracije natančno in zanesljivo pridobiti.
Zaključek
Glede na te premisleke je za večino industrijskih aplikacij na splošno dovolj števec delcev 0,1 μm. Medtem ko morda ne zaznajo najmanjših delcev, potrebnih za natančno merjenje MPPS v membranskih filtrih, alternativni postopek, opisan v ISO 29463, zagotavlja, da je še vedno mogoče določiti natančno in zanesljivo učinkovitost filtracije. SC-FT-1406DU s svojo visoko učinkovitostjo nadalje podpira te potrebe po testiranju in uravnoteži potrebo po praktičnih rešitvah s tehničnimi omejitvami razpoložljive tehnologije za odkrivanje delcev.
